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ASIC器件的自动测试技术[发明专利]

来源:筏尚旅游网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:ASIC器件的自动测试技术专利类型:发明专利

发明人:沈森祖,石坚,夏强民,吴丹申请号:CN200510019839.0申请日:20051118公开号:CN1967274A公开日:20070523

摘要:一种ASIC器件的自动测试技术包括:重组S10大规模集成电路测试系统、PC机、仿真器,S10大规模集成电路测试系统和PC机、PC机和仿真器之间用RS232连接,在PC机中使用逻辑描述生成测试程序,或使用设计源文件生成测试程序,或使用金器件生成测试程序,PC机和S10大规模集成电路测试系统自动切换,在大规模集成电路测试系统上自动编译,加载测试。其优点是:避免了对ASIC器件不同的型号器件要编不同的程序软件,只要利用设计文件,或逻辑描述,或金器件就可以得到测试程序,既提高效率,又节省了大量的人力、物力。

申请人:中国船舶重工集团公司七○九研究所

地址:430074 湖北省武汉市洪山区珞瑜路718号

国籍:CN

代理机构:武汉金堂专利事务所

代理人:胡清堂

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