ASIC器件的自动测试技术[发明专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：ASIC器件的自动测试技术专利类型：发明专利

发明人：沈森祖,石坚,夏强民,吴丹申请号：CN200510019839.0申请日：20051118公开号：CN1967274A公开日：20070523

摘要：一种ASIC器件的自动测试技术包括：重组S10大规模集成电路测试系统、PC机、仿真器，S10大规模集成电路测试系统和PC机、PC机和仿真器之间用RS232连接，在PC机中使用逻辑描述生成测试程序，或使用设计源文件生成测试程序，或使用金器件生成测试程序，PC机和S10大规模集成电路测试系统自动切换，在大规模集成电路测试系统上自动编译，加载测试。其优点是：避免了对ASIC器件不同的型号器件要编不同的程序软件，只要利用设计文件，或逻辑描述，或金器件就可以得到测试程序，既提高效率，又节省了大量的人力、物力。

申请人：中国船舶重工集团公司七○九研究所

地址：430074 湖北省武汉市洪山区珞瑜路718号

国籍：CN

代理机构：武汉金堂专利事务所

代理人：胡清堂

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