专利名称:一种基于畸变校正的像机焦距求解方法专利类型:发明专利
发明人:孙茜,王小艺,许继平,王立,张慧妍,于家斌,苏婷立申请号:CN201510778477.7申请日:20151113公开号:CN1027299A公开日:20160323
摘要:本发明提出了一种基于畸变校正的像机焦距求解方法,包括图像畸变线性模型的建立和像机焦距的求解两个基本步骤。步骤一,首先建立像机成像模型,进一步通过公式推导,求解畸变前后像点间的关系式,进而建立图像畸变线性模型;步骤二,首先建立像机标定层次化模型,进而求取像机最优焦距。本发明通过建立图像畸变线性模型,进而层次化的求解像机焦距,可灵活有效的解决像机自标定过程中同时求解像机内部参数和畸变系数的问题。
申请人:北京工商大学
地址:100048 北京市海淀区阜成路33号
国籍:CN
代理机构:北京科迪生专利代理有限责任公司
代理人:杨学明
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