专利名称:数控衰减器测试系统专利类型:实用新型专利发明人:汤小秋,郑楠,廖国平申请号:CN200920270426.3申请日:20091123公开号:CN201666924U公开日:20101208
摘要:一种数控衰减器测试系统,包括射频信号前置输入设备、衰减测试装置和频谱分析仪;衰减测试装置包括:(1)输入模块;(2)微控制器,对来自输入模块的信号进行处理后,输出串行/并行工作模式切换信号和衰减值信号至测试夹具上相应的接口,输出衰减值信号至显示模块;(3)显示模块;(4)测试夹具,用于放置被测试的数控衰减器,其射频信号输入接口与射频信号前置输入设备的射频信号输出端口连接,射频信号输出接口与频谱分析仪的射频信号输入端口连接,串行/并行工作模式切换信号输入接口和衰减值信号输入接口分别与微控制器的相应端口连接;(5)电源模块。本实用新型能够高效快速、准确、方便地对数控衰减器进行全范围的衰减功能测试。
申请人:汕头高新区亚威科技有限公司
地址:515000 广东省汕头市龙湖区汕头高新区科技南一街6号亨泽大厦5楼
国籍:CN
代理机构:汕头市潮睿专利事务有限公司
代理人:俞诗永
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