专利名称：一种检测紫外照射后基因组损伤的方法专利类型：发明专利发明人：不公告发明人申请号：CN202110257633.0申请日：20210310公开号：CN112626183A公开日：20210409
摘要：一种检测紫外照射后基因组损伤的方法，由双通道TaqMan荧光探针定量检测微生物基因组损伤，包括以下制备步骤：用相应培养基培养得到所需微生物培养液；定量取得所述微生物培养液经裂解离心获得上清液分别作为对照组和实验组模板进行荧光定量PCR扩增，其中实验组培养液经一定紫外强度下照射；采集所述第一对照组、第二对照组和实验组各子组的荧光信号CT值；进而得到第二对照组各子组的ΔCTCK值的标准偏差s和检测限L、实验组各子组CT差值（ΔCTuv）和第一对照组各子组的CT差值的平均值（ΔCTCK‑）；ΔΔCT=ΔCTuv‑ΔCTCK‑作为实验组损伤判据。所述荧光探针定量检测微生物基因组损伤的方法具有较强的特异性和较高的灵敏度，能够用于快速检测紫外照射后的微生物基因组损伤的鉴定。
申请人：至善时代智能科技(北京)有限公司,至微生物智能科技(厦门)有限公司
地址：102600 北京市大兴区中关村科技园区大兴生物医药产业基地永大路38号1幢4层409-14室
国籍：CN
代理机构：北京华创智道知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：彭随丽
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