一种用于微光探测的光学耦合系统[实用新型专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：一种用于微光探测的光学耦合系统专利类型：实用新型专利

发明人：孙鑫,胡炳樑,邹纯博,李勇,王乐,白清兰申请号：CN201320209242.2申请日：20130423公开号：CN203217157U公开日：20130925

摘要：本实用新型涉及一种用于微光探测的光学耦合系统，包括沿光路依次设置的像增强器、大孔径成像镜以及探测器，大孔成像镜包括接收组、成像组以及光阑，光阑连接接收组和成像组，接收组包括依次设置的前组单透镜一、前组胶合一、前组胶合二、前组单透镜二，所述成像组包括依次设置的后组单透镜一、后组胶合一、后组胶合二以及后组单透镜二。本实用新型为了解决传统的中继镜耦合系统效率低、不利用定量分析的技术问题，本实用新型主要为了实现像增强器和成像探测器之间的非接触式图像传输的功能。

申请人：中国科学院西安光学精密机械研究所

地址：710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号

国籍：CN

代理机构：西安智邦专利商标代理有限公司

代理人：张倩

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