IC测试简介

IC测试简介

随着门电路数目和系统复杂性以指数倍增，在产品设计中使设计人员最费神的将会是功能测试。在新型集成电路和大型系统的设计过程中，必须在功能测试上投入大量的时间。工程技术人员在长期的实践过程中应该早就意识到，要设计诸如有1200万个门电路，以600兆赫运行的这样的大规模集成电路, 真正的问题不在于如何设计，而是如何测试。

1．正确认识IC测试

有些人认为只要拥有最好的开发工具，就能开发出高质量的集成电路和集成系统，满足市场的需要，减小竞争的压力，其实这种观念是极其错误的。事实上，成功开发集成电路和系统的秘诀在于如何进行测试，开发人员绝对不能忽略测试在开发过程中的作用。要使得系统的测试更加快捷和精确，就要改进工具，革新方法，只有不断采用更好的测试工具和设计工具才能缩短设计周期，增强产品的竞争力。但是，大部份工程师用的还是多年前的测试方法，如果要明显提高测试效率，就必须对开发人员的测试方法进行真正意义上的的改进。

2．什么是测试

测试和测试平台并不是同一个概念，测试是指验证某个设计的功能是否正确实现的过程，而测试平台是测试人员编写的代码，能为某项设计产生预先设定的输入结果，并能随意观测其响应（相对于VHDL和Verilog而言）。

3．测试的重要性

现在，集成电路上可能集成数以百万计的门电路。在智能系统和片上系统（SOC）中，测试占去总投入的70%以上。设计人员中要分出专门的人去进行测试，其中包括专职从事测试的人员。测试人员通常是RTL设计人员的两倍。设计方案完成以后，建立测试平台的代码占代码总量的80%。考虑到测试的巨大投入，高级硬件设计和测试人员的匮乏，以及繁重的编码工作，所以说测试是所有设计方案的重中之重。

4．测试所面临的问题

因为功能，接口，协议和转换格式的不同，人们不可能从已有方法中找到一种普遍适用的自动测试技术。但是在应用领域不是那么宽广的情况下，测试过程部份实现自动化还是可能的。如果能给测试制定严格的标准定义，则可能在不久的将来或许能够实现测试自动化。

5．“为测试而设计”的测试思想

有时为适应测试的要求，要对设计方案作某些修订，这是完全有必要的。因为功能测试所花的时间是设计本身的两倍，所以完全有必要在设计上多花点时间，以简化测试过程。比如设计人员可以在设计中插入扫描链以增加可检测性，但不增加功能一样，在大多数情况下都应该在设计中加入非功能性结构和特征以适应测试的需要。这就要求在一个项目的开始就考虑到测试，尤其是在制定要求的阶段。设计过程中不仅要解决“要实现什么功能？”的问题，而且要解决“如何来进行测试？”的问题。

6．如何进行测试

功能测试可以用三种不同但互补的方法：黑箱测试，白箱测试，灰箱测试。在功能测

试的过程中可能用到的测试工具包括代码静态分析工具、代码检查、仿真器、示波器和代码覆盖。

在进行测试之前，必须为要测试对象制定详细的说明文档，而且要以书面的形式写出来。在建立测试平台的过程中，要着重解决如何产生激发信号和如何对输出结果进行测试的问题，以及与此相关的信号处理和自动监控等一系列问题，特别要注意测试构件的封装，以提高可再用性，从而提高测试效率。