一种平整度激光测量装置[实用新型专利]

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专利名称：一种平整度激光测量装置专利类型：实用新型专利发明人：赵清万,蒋晗

申请号：CN201920081859.8申请日：20190118公开号：CN2095248U公开日：20191022

摘要：本实用新型公开了一种平整度激光测量装置，固定底板上固定有所述伸缩件的固定端，所述激光测距仪A的一侧设有一限位支架，所述限位支架呈环形结构，所述限位支架远离所述激光测距仪A的一侧开有一开口，所述开口的宽度小于所述伸缩件活动端的直径长度，所述限位支架卡扣在所述伸缩件的活动端的端部，所述伸缩件的活动端带动所述激光测距仪A上、下运动，所述伸缩件的固定端的一侧沿其固定方向设有电动导轨，所述电动导轨的滑动端滑动连接有一滑块，所述滑块上固定连接有激光测距仪B，所述激光测距仪A和激光测距仪B的输出端通过导线连接到显示组件。本实用新型利用激光测距仪A和激光测距仪B测量到化工筒内表面是否光滑，测量精度更高。

申请人：南京三方化工设备监理有限公司

地址：210036 江苏省南京市鼓楼区清江南路19号南大苏富特1号楼3层

国籍：CN

代理机构：北京华旭智信知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：冯云

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