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一种读出电路及其工作方法

来源：筏尚旅游网

（19）中华人民共和国国家知识产权局

（12）发明专利申请

（21）申请号 CN2019103567.3 （22）申请日 2019.04.29

（71）申请人北京安酷智芯科技有限公司

地址 100080 北京市海淀区中关村鼎好大厦A座3层太库产业孵化器C05室

（10）申请公布号 CN110146178A

（43）申请公布日 2019.08.20

（72）发明人施薛优;陈光毅

（74）专利代理机构北京辰权知识产权代理有限公司

代理人肖文文

（51）Int.CI

权利要求说明书说明书幅图

（）发明名称

一种读出电路及其工作方法

（57）摘要

本发明公开一种读出电路及其工作方法，

涉及一种读出电路及其工作方法。其中读出电路包括：M列×N行像素电路、N行行级测试电阻电路、M列列级测试电阻电路及M列列级读出电路；其中M、N均为自然数且M≥2，N≥2；行级测试电阻电路、列级测试电阻电路、列级读出电路均与像素电路连接；列级测试电阻电路与列级读出电路连接；其中，列级读出电路中包含测试列子电路；列级读出电路还与一电流源连接。采

用本读出电路，不仅可以实现无MEMS传感器的情况下进行整个读出电路所有行列的功能测试，还能在有MEMS传感器情况下，得到更为精确的各个MEMS电阻阻值，且测试结果更准确，提升测试效率。

法律状态

法律状态公告日

2019-08-20 2019-08-20 2019-09-13

法律状态信息

公开公开

实质审查的生效

法律状态

公开公开

实质审查的生效

权利要求说明书

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说明书

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