专利名称：一种测定光学镀层或镀层系统的物理特性的方法专利类型：发明专利
发明人：汉斯·格奥尔格·洛茨,于尔根·施罗德申请号：CN200510090606.X申请日：20050817公开号：CN1811378A公开日：20060802
摘要：本发明涉及一种通过光谱透射和/或反射测量方法测定光学镀层或镀层系统的物理特性的方法，由此，根据透射和/或反射测量光谱，从已知值中选择或通过试验确定随波长变化而变化的折射率n和/或消光系数k的参考值；并且通过折射率和消光系数的与波长无关的变量常数K和K来描述表征该镀层的变量。
申请人：应用薄膜有限责任与两合公司
地址：德国阿尔泽瑙
国籍：DE
代理机构：北京邦信阳专利商标代理有限公司
更多信息请下载全文后查看
因篇幅问题不能全部显示，请点此查看更多更全内容
Copyright © 2019- efsc.cn 版权所有 赣ICP备2024042792号-1
违法及侵权请联系：TEL:199 1889 7713 E-MAIL:2724546146@qq.com
本站由北京市万商天勤律师事务所王兴未律师提供法律服务