(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 105699815 A (43)申请公布日 2016.06.22
(21)申请号 201610129984.2(22)申请日 2016.03.08
(71)申请人广州市丰海科技股份有限公司
地址510663 广东省广州市萝岗区科学城科
学大道182号创新大厦C3-1201、1202(72)发明人杨全生 郑庆三 胡晓鹏 廖朝徕(74)专利代理机构广州新诺专利商标事务所有
限公司 44100
代理人曹爱红(51)Int.Cl.
G01R 31/00(2006.01)
权利要求书3页 说明书8页 附图6页
(54)发明名称
一种LED模组自动老化的检测方法及其检测系统(57)摘要
本发明属于LED模组检测技术领域，具体公开一种LED模组自动老化的检测方法及其检测系统。其具体检测方法是：读取LED故障查询按钮,根据按钮的状态值进行功能操作；相应故障LED模组进行短路提醒显示,同时数码管也进行提醒；相应故障LED模组进行开路、虚焊提醒显示,同时数码管也进行提醒；读取LED类型选择按钮,根据按钮的状态值选择相应的模式；对一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚电压差值计算；LED短路和开路、虚焊检测；故障数据记录；读取记录数据清除按钮,根据按钮的状态值进行清除数据功能操作。该检测方法测试结果准确，测试过程易于实现，且便于测试人员维修和维护，工作效率高。 C N 1 0 5 6 9 9 8 1 5 ACN 105699815 A
权 利 要 求 书
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1.一种LED模组自动老化的检测方法，其特征在于，其检测步骤是：步骤一，读取LED故障查询按钮,根据按钮的状态值进行功能操作；步骤二，相应故障LED模组进行短路提醒显示,同时数码管也进行提醒；步骤三，相应故障LED模组进行开路、虚焊提醒显示,同时数码管也进行提醒；步骤四，读取LED类型选择按钮,根据按钮的状态值选择相应的模式；步骤五，对一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚电压差值计算；步骤六，LED短路和开路、虚焊检测；步骤七，故障数据记录；步骤八，读取记录数据清除按钮,根据按钮的状态值进行清除数据功能操作。2.根据权利要求1所述的LED模组自动老化的检测方法，其特征在于：上述步骤五的具体过程如下：
(1)本子系统熄灭所有的LED；
(2)本子系统点亮此模组中相同颜色的第一个芯片中第一个LED；(3)本子系统通过AD采样读取这个LED的电压值V1,并保存值V1；(4)对于模组P16，重复上述步骤1～3，直到同一种颜色的一个芯片所有管脚的LED采样点V1～V16读取完毕,并保存值V1～V16；
(5)本子系统计算V1～V16的电压均值Vavr,并保存Vavr；(6)本子系统计算电压差值:Δv1～16＝(V1～V16)-Vavr，记录对应的模组号、行号、列号和电压差值，
(7)本子系统保存值Δv1～Δv16；
(8)本子系统计算Δv1～Δv16的均值Δvavr,并保存值Δvavr，记录所在模组号，第几个芯片,均值。
3.根据权利要求2所述的LED模组自动老化的检测方法，其特征在于：关于模组P31/P33红色LED的短路和开路、虚焊检测过程，包括如下步骤：
(1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件；
(2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例，获取值Δv1～Δv16和Δvavr；
(3)对于模组P31、P33红色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+15)≤|Δv1～Δv16|≤70，则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM；
(4)对于模组P31、P33红色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+70)＜|Δv1～Δv16|≤130，则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM；(5)对于模组P31、P33红色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+15)≤|Δv1～Δv16|≤70，则将此LED位置信息和2路并联中有1路开路故障写入EEPROM；
(6)对于模组P31、P33红色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+80)≤|Δv1～Δv16|≤200，则将此LED位置信息和2路并联中全开路故障写入EEPROM；(P31、P33模组红色LED)；
(7)其它情况下,本系统不作处理。
4.根据权利要求2所述的LED模组自动老化的检测方法，其特征在于：所述模组P31/P33绿色LED的短路和开路、虚焊检测过程，包括如下步骤：
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权 利 要 求 书
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(1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件；
(2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例，获取值Δv1～Δv16和Δvavr；
(3)对于模组P31、P33绿色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1～Δv16|≤75，则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM；(P31、P33模组绿色LED)；
(4)对于模组P31、P33绿色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+80)≤|Δv1～Δv16|≤260，则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM；(P31、P33模组绿色LED)；
(5)对于模组P31、P33绿色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1～Δv16|≤85，则将此LED位置信息和2路并联中有1路开路故障写入EEPROM；(P31、P33模组绿色LED)；
P33绿色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+200)≤|Δv1～Δ(6)对于模组P31、
v16|≤350，则将此LED位置信息和2路并联中全开路故障写入EEPROM；(P31、P33模组绿色LED)；
(7)其它情况下,本系统不作处理。
5.根据权利要求2所述的LED模组自动老化的检测方法，其特征在于：模组P31/P33蓝色LED的短路和开路、虚焊检测过程，其包括步骤：
(1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件；
(2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例，获取值Δv1～Δv16和Δvavr；
(3)对于模组P31、P33蓝色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1～Δv16|≤65，则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM；(P31、P33模组蓝色LED)；
(4)对于模组P31、P33蓝色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+70)≤|Δv1～Δv16|≤180，则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM；(P31、P33模组蓝色LED)；
(5)对于模组P31、P33蓝色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+200)≤|Δv1～Δv16|≤350，则将此LED位置信息和全开路故障写入EEPROM；(P31、P33模组蓝色LED)；
(6)其它情况下,本系统不作处理。
6.根据权利要求2所述的LED模组自动老化的检测方法，其特征在于：模组P8/P10/P14/P16/P20/P25红色LED的短路和开路、虚焊检测过程,包括步骤：
(1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件；
(2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例，获取值Δv1～Δv16和Δvavr；
(3)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25红色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+15)≤|Δv1～Δv16|≤40，则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM；
(4)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25红色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+40)＜|Δv1～Δv16|≤140，则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM；
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权 利 要 求 书
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(5)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25红色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+140)＜|Δv1～Δv16|≤300，则将此LED位置信息和开路故障写入EEPROM；
(6)其它情况下,本系统不作处理。
7.根据权利要求2所述的LED模组自动老化的检测方法，其特征在于：模组P8/P10/P14/P16/P20/P25绿色LED短路和开路、虚焊检测过程,包括步骤：
(1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件；
(2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例，获取值Δv1～Δv16和Δvavr；
(3)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25绿色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1～Δv16|≤40，则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM；
(4)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25绿色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+40)＜|Δv1～Δv16|≤70，则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM；
(5)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25绿色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+70)＜|Δv1～Δv16|≤150，则将此LED位置信息和开路故障写入EEPROM；
(6)其它情况下,本系统不作处理。
8.根据权利要求2所述的LED模组自动老化的检测方法，其特征在于：模组P8/P10/P14/P16/P20/P25蓝色LED短路和开路、虚焊检测过程,包括步骤：
(1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件；
(2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例，获取值Δv1～Δv16和Δvavr；
(3)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25蓝色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1～Δv16|≤60，则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM；
(4)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25蓝色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+190)≤|Δv1～Δv16|≤300，则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM；
(5)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25蓝色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+70)≤|Δv1～Δv16|≤190，则将此LED位置信息和开路故障写入EEPROM；
(6)其它情况下,本系统不作处理。
9.一种根据权利要求1至8所述的LED模组自动老化的检测系统，其特征在于：其包括一测试卡，所述测试卡上设有四个功能按钮和三个指示灯，其中四个功能按钮分别为：上电复位按钮、LED类型选择按钮、LED故障查询按钮和记录数据清除按钮；三个指示灯分别为：电源指示灯、运行状态指示灯和故障指示灯。
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说 明 书
一种LED模组自动老化的检测方法及其检测系统
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技术领域
[0001]本发明涉及LED模组检测技术领域，特别涉及一种LED模组自动老化的检测方法及其检测系统。
背景技术
[0002]近年来，LED电子显示屏作为一种高科技产品日益引起人们的重视。它可以实时显示或循环播放文字、图形和图像信息，具有显示方式丰富、观赏性强、显示内容修改方便、亮度高、显示稳定且寿命长等多种优点，被广泛应用于诸多领域。[0003]而智能交通作为传播信息的地方，这几年随处可见LED显示屏的身影，LED作为一个信息的载体，用来展现一些欢迎、提醒的标语、展现公路的智能化，，是一个不错的选择。其高亮度、高清画面、可视角度广等特点，成为交通领域选择LED显示屏作为信息传递的重要因素。
[0004]目前，国内有些厂家使用带开路和短路检测的芯片来进行LED的自动老化的检测技术；也有通过电脑发送失控点回收指令，能准确判断单元模组(模组包括P8、P10、P16、P20、P25、P31、P33)中的每一个像素点是否工作正常，有故障的像素点在电脑显示屏上能精确看到故障点的坐标位置，根据提示故障点的坐检查模组，能发现该像素短路、断路、VF不正常等问题，但是现有技术中采用的LED模组自动老化检测技术测试过程繁琐，不便于测试人员的维修和维护，工作效率较低。[0005]因此，研发一种测试准确，维修和维护过程简单方便，工作效率高的LED模组自动老化的检测方法及其检测系统迫在眉睫。
发明内容
[0006]本发明的技术目的是克服现有技术的不足，提供一种LED模组自动老化的检测方法，该检测方法测试结果准确，测试过程易于实现，且便于测试人员维修和维护，工作效率高。
[0007]为了达到上述技术目的，本发明是按以下技术方案实现的：[0008]本发明所述的一种LED模组自动老化的检测方法，其检测步骤是：[0009]步骤一，读取LED故障查询按钮,根据按钮的状态值进行功能操作；[0010]步骤二，相应故障LED模组进行短路提醒显示,同时数码管也进行提醒；[0011]步骤三，相应故障LED模组进行开路、虚焊提醒显示,同时数码管也进行提醒；[0012]步骤四，读取LED类型选择按钮,根据按钮的状态值选择相应的模式；[0013]步骤五，对一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚电压差值计算；[0014]步骤六，LED短路和开路、虚焊检测；[0015]步骤七，故障数据记录；[0016]步骤八，读取记录数据清除按钮,根据按钮的状态值进行清除数据功能操作。[0017]作为上述技术的进一步改进，上述步骤五的具体过程如下：
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说 明 书
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(1)本子系统熄灭所有的LED；
[0019](2)本子系统点亮此模组中相同颜色的第一个芯片中第一个LED；[0020](3)本子系统通过AD采样读取这个LED的电压值V1,并保存值V1；[0021](4)对于模组P16，重复上述步骤1～3，直到同一种颜色的一个芯片所有管脚的LED采样点V1～V16读取完毕,并保存值V1～V16；
[0022](5)本子系统计算V1～V16的电压均值Vavr,并保存Vavr；[0023](6)本子系统计算电压差值:Δv1～16＝(V1～V16)-Vavr，记录对应的模组号、行号、列号和电压差值，
[0024](7)本子系统保存值Δv1～Δv16；
[0025](8)本子系统计算Δv1～Δv16的均值Δvavr,并保存值Δvavr，记录所在模组号，第几个芯片,均值。
[0026]作为上述技术的更进一步改进，关于模组P31/P33红色LED的短路和开路、虚焊检测过程，包括如下步骤：
[0027](1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件；
[0028](2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例，获取值Δv1～Δv16和Δvavr；
[0029](3)对于模组P31、P33红色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+15)≤|Δv1～Δv16|≤70，则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM；[0030](4)对于模组P31、P33红色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+70)＜|Δv1～Δv16|≤130，则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM；(5)对于模组P31、P33红色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+15)≤|Δv1～Δv16|≤70，则将此LED位置信息和2路并联中有1路开路故障写入EEPROM；[0031](6)对于模组P31、P33红色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+80)≤|Δv1～Δv16|≤200，则将此LED位置信息和2路并联中全开路故障写入EEPROM；(P31、P33模组红色LED)；
[0032](7)其它情况下,本系统不作处理；[0033]作为上述技术的更进一步改进，所述模组P31/P33绿色LED的短路和开路、虚焊检测过程，包括如下步骤：
[0034](1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件；
[0035](2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例，获取值Δv1～Δv16和Δvavr；
[0036](3)对于模组P31、P33绿色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1～Δv16|≤75，则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM；(P31、P33模组绿色LED)；
[0037](4)对于模组P31、P33绿色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+80)≤|Δv1～Δv16|≤260，则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM；(P31、P33模组绿色LED)；
[0038](5)对于模组P31、P33绿色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1～Δv16|≤85，则将此LED位置信息和2路并联中有1路开路故障写入EEPROM；(P31、P33模组
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说 明 书
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绿色LED)；
[0039](6)对于模组P31、P33绿色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+200)≤|Δv1～Δv16|≤350，则将此LED位置信息和2路并联中全开路故障写入EEPROM；(P31、P33模组绿色LED)；
[0040](7)其它情况下,本系统不作处理；[0041]作为上述技术的更进一步改进，模组P31/P33蓝色LED的短路和开路、虚焊检测过程，其包括步骤：
[0042](1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件；
[0043](2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例，获取值Δv1～Δv16和Δvavr；
[0044](3)对于模组P31、P33蓝色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1～Δv16|≤65，则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM；(P31、P33模组蓝色LED)；
[0045](4)对于模组P31、P33蓝色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+70)≤|Δv1～Δv16|≤180，则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM；(P31、P33模组蓝色LED)；
[0046](5)对于模组P31、P33蓝色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+200)≤|Δv1～Δv16|≤350，则将此LED位置信息和全开路故障写入EEPROM；(P31、P33模组蓝色LED)；[0047](6)其它情况下,本系统不作处理；[0048]作为上述技术的更进一步改进，模组P8/P10/P14/P16/P20/P25红色LED的短路和开路、虚焊检测过程,包括步骤：
[0049](1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件；
[0050](2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例，获取值Δv1～Δv16和Δvavr；
[0051](3)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25红色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+15)≤|Δv1～Δv16|≤40，则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM；[0052](4)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25红色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+40)＜|Δv1～Δv16|≤140，则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM；[0053](5)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25红色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+140)＜|Δv1～Δv16|≤300，则将此LED位置信息和开路故障写入EEPROM；[0054](6)其它情况下,本系统不作处理；[0055]作为上述技术的更进一步改进，模组P8/P10/P14/P16/P20/P25绿色LED短路和开路、虚焊检测过程,包括步骤：
[0056](1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件；
[0057](2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例，获取值Δv1～Δv16和Δvavr；
[0058](3)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25绿色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1～Δv16|≤40，则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM；[0059](4)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25绿色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δ
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vavr|+40)＜|Δv1～Δv16|≤70，则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM；[0060](5)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25绿色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+70)＜|Δv1～Δv16|≤150，则将此LED位置信息和开路故障写入EEPROM；[0061](6)其它情况下,本系统不作处理。[0062]作为上述技术的更进一步改进，模组P8/P10/P14/P16/P20/P25蓝色LED短路和开路、虚焊检测过程,包括步骤：
[0063](1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件；
[0064](2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例，获取值Δv1～Δv16和Δvavr；
[0065](3)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25蓝色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1～Δv16|≤60，则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM；[0066](4)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25蓝色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+190)≤|Δv1～Δv16|≤300，则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM；
[0067](5)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25蓝色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+70)≤|Δv1～Δv16|≤190，则将此LED位置信息和开路故障写入EEPROM；[0068](6)其它情况下,本系统不作处理。
[0069]本发明还公开了上述LED模组自动老化的检测系统，其包括一测试卡，所述测试卡上设有四个功能按钮和三个指示灯，其中四个功能按钮分别为：上电复位按钮、LED类型选择按钮、LED故障查询按钮和记录数据清除按钮；三个指示灯分别为：电源指示灯、运行状态指示灯和故障指示灯。[0070]与现有技术相比，本发明的有益效果是：
[0071](1)本发明所述的LED模组自动老化检测方法，能有效的实现LED开路、虚焊的可靠检测；
[0072](2)本发明所述的LED模组自动老化检测方法，能较好的实现LED焊锡短路的可靠检测；
[0073](3)本发明所述的LED模组自动老化检测方法，实现LED检测状态故障记录；[0074](4)本发明所述的LED模组自动老化检测方法，实现故障LED模组显示。附图说明
[0075]图1是本发明LED模组自动老化检测系统原理框图；
[0076]图2是本发明所述的LED模组自动老化检测方法流程图；
[0077]图3是本发明中一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚电压差值计算流程图；
[0078]图4是本发明中LED短路和开路、虚焊检测流程图；
[0079]图5为本发明所述的LED模组自动老化检测方法过程状态图；
[0080][0081]
图6为本发明的类模型示意图。
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具体实施方式
[0082]如图1所示，本发明所述的LED模组自动老化的检测系统，其包括一测试卡，所述测试卡上设有四个功能按钮和三个指示灯，其中四个功能按钮分别为：上电复位按钮、LED类型选择按钮、LED故障查询按钮和记录数据清除按钮；三个指示灯分别为：电源指示灯、运行状态指示灯和故障指示灯。[0083]如图2所示，本发明所述的一种LED模组自动老化的检测方法，其检测步骤是：[0084]步骤一，读取LED故障查询按钮,根据按钮的状态值进行功能操作；[0085]步骤二，相应故障LED模组进行短路提醒显示,同时数码管也进行提醒；[0086]步骤三，相应故障LED模组进行开路、虚焊提醒显示,同时数码管也进行提醒；[0087]步骤四，读取LED类型选择按钮,根据按钮的状态值选择相应的模式；[0088]步骤五，对一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚电压差值计算；[0089]步骤六，LED短路和开路、虚焊检测；[0090]步骤七，故障数据记录；[0091]步骤八，读取记录数据清除按钮,根据按钮的状态值进行清除数据功能操作。[0092]如图3所示，在本发明中，上述步骤五所述的一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚电压差值计算的具体过程如下：[0093](1)本子系统熄灭所有的LED；
[0094](2)本子系统点亮此模组中相同颜色的第一个芯片中第一个LED；[0095](3)本子系统通过AD采样读取这个LED的电压值V1,并保存值V1；[0096](4)对于模组P16，重复上述步骤1～3，直到同一种颜色的一个芯片所有管脚的LED采样点V1～V16读取完毕,并保存值V1～V16；
[0097](5)本子系统计算V1～V16的电压均值Vavr,并保存Vavr；[0098](6)本子系统计算电压差值:Δv1～16＝(V1～V16)-Vavr，记录对应的模组号、行号、列号和电压差值，
[0099](7)本子系统保存值Δv1～Δv16；
[0100](8)本子系统计算Δv1～Δv16的均值Δvavr,并保存值Δvavr，记录所在模组号，第几个芯片,均值。
[0101]在本发明中，分别根据不同的模组进行说明，其包括模组P31/P33和模组P8/P10/P14/P16/P20/P25，具体见图4和图5：[0102]第一，以下具体说明对于模组P31/P33不同颜色LED的短路和开路、虚焊检测过程：[0103]1、关于模组P31/P33红色LED的短路和开路、虚焊检测过程，包括如下步骤：[0104](1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件；
[0105](2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例，获取值Δv1～Δvn和Δvavr；
[0106](3)对于模组P31、P33红色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+15)≤|Δv1～Δv16|≤70，则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM；[0107](4)对于模组P31、P33红色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+70)＜|Δv1～Δv16|≤130，则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM；(5)对于模组P31、
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P33红色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+15)≤|Δv1～Δv16|≤70，则将此LED位置信息和2路并联中有1路开路故障写入EEPROM；[0108](6)对于模组P31、P33红色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+80)≤|Δv1～Δv16|≤200，则将此LED位置信息和2路并联中全开路故障写入EEPROM；(P31、P33模组红色LED)；
[0109](7)其它情况下,本系统不作处理；[0110]2、所述模组P31/P33绿色LED的短路和开路、虚焊检测过程，包括如下步骤：[0111](1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件；
[0112](2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例，获取值Δv1～Δv16和Δvavr；
[0113](3)对于模组P31、P33绿色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1～Δv16|≤75，则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM；(P31、P33模组绿色LED)；
[0114](4)对于模组P31、P33绿色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+80)≤|Δv1～Δv16|≤260，则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM；(P31、P33模组绿色LED)；
[0115](5)对于模组P31、P33绿色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1～Δv16|≤85， 则将此LED位置信息和2路并联中有1路开路故障写入EEPROM；(P31、P33模组绿色LED)；
[0116](6)对于模组P31、P33绿色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+200)≤|Δv1～Δv16|≤350，则将此LED位置信息和2路并联中全开路故障写入EEPROM；(P31、P33模组绿色LED)；
[0117](7)其它情况下,本系统不作处理；[0118]3、模组P31/P33蓝色LED的短路和开路、虚焊检测过程，其包括步骤：[0119](1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件；
[0120](2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例，获取值Δv1～Δv16和Δvavr；
[0121](3)对于模组P31、P33蓝色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1～Δv16|≤65，则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM；(P31、P33模组蓝色LED)；
[0122](4)对于模组P31、P33蓝色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+70)≤|Δv1～Δv16|≤180，则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM；(P31、P33模组蓝色LED)；
[0123](5)对于模组P31、P33蓝色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+200)≤|Δv1～Δv16|≤350，则将此LED位置信息和全开路故障写入EEPROM；(P31、P33模组蓝色LED)；[0124](6)其它情况下,本系统不作处理；[0125]第二、以下具体说明对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25不同颜色LED的短路和开路、虚焊检测过程(如图4、图5所示)：[0126]1、对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25红色LED的短路和开路、虚焊检测过程,包括
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步骤：
(1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件；
[0128](2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例，获取值Δv1～Δv16和Δvavr；
[0129](3)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25红色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+15)≤|Δv1～Δv16|≤40，则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM；[0130](4)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25红色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且 (|Δvavr|+40)＜|Δv1～Δv16|≤140，则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM；[0131](5)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25红色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+140)＜|Δv1～Δv16|≤300，则将此LED位置信息和开路故障写入EEPROM；[0132](6)其它情况下,本系统不作处理；[0133]2、对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25绿色LED短路和开路、虚焊检测过程,包括步骤：
[0134](1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件；
[0135](2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例，获取值Δv1～Δv16和Δvavr；
[0136](3)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25绿色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1～Δv16|≤40，则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM；[0137](4)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25绿色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+40)＜|Δv1～Δv16|≤70，则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM；[0138](5)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25绿色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+70)＜|Δv1～Δv16|≤150，则将此LED位置信息和开路故障写入EEPROM；[0139](6)其它情况下,本系统不作处理。[0140]3、对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25蓝色LED短路和开路、虚焊检测过程,包括步骤：
[0141](1)周期性定时器向本子系统发送定时到事件；
[0142](2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED管脚差值计算用例，获取值Δv1～Δv16和Δvavr；
[0143](3)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25蓝色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+20)≤|Δv1～Δv16|≤60，则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM；[0144](4)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25蓝色LED，如果在(Δv1～Δv16)＞0且(|Δvavr|+190)≤|Δv1～Δv16|≤300，则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM；
[0145](5)对于模组P8/P10/P14/P16/P20/P25蓝色LED，如果在(Δv1～Δv16)＜0且(|Δvavr|+70)≤|Δv1～Δv16|≤190，则将此LED位置信息和开路故障写入EEPROM；[0146](6)其它情况下,本系统不作处理。[0147]如图6所示，本发明所述的LED模组自动老化检测方法，其能有效的实现LED开路、虚焊的可靠检测；能较好的实现LED焊锡短路的可靠检测；较好的实现LED检测状态故障记录 以及能实现故障LED模组显示。
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本发明并不局限于上述实施方式，凡是对本发明的各种改动或变型不脱离本发明
的精神和范围，倘若这些改动和变型属于本发明的权利要求和等同技术范围之内，则本发明也意味着包含这些改动和变型。
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